Kif Twettaq Testijiet tas-Siġillar Wara l-Mili mill-ġdid tal-Ossidu tal-Magnesium

Il-metodu ewlieni għat-testijiet tas-siġillar wara l-mili mill-ġdid tal-ossidu tal-manjeżju huwa li tgħaqqad l-ittestjar tal-issiġillar tal-arja, l-ittestjar tal-umdità, u l-ispezzjoni tar-raġġi X-bi spezzjoni viżwali biex jiġi żgurat li s-siġill ikun ħieles minn difetti-. Dawn il-metodi jivverifikaw b'mod effettiv IP65 jew klassifikazzjonijiet ta 'protezzjoni ogħla, u jipprevjenu l-umdità u l-intrużjoni tat-trab li jistgħu jwasslu għal nuqqas ta' insulazzjoni.

1. Test tal-issikkar tal-arja (Metodu taż-Żamma tal-Pressjoni)

Metodu ta 'Tħaddim: Applika arja kkompressata 0.3MPa jew nitroġenu għall-element ta' tisħin u żomm il-pressjoni għal 30 minuta;

Pass Kriterji: L-ebda waqgħa fil-pressjoni, l-ebda tnixxija;

Għodod tal-Ittestjar: Gauge tal-pressjoni diġitali ta'-preċiżjoni għolja + apparat tal-ġonta tas-siġillar;

Stadju Applikabbli: Ittestjar tal-lott qabel il-ġarr jew wara t-tiswija.

Dan huwa l-aktar metodu dirett għall-verifika tas-siġillar u jista 'jsib anke tnixxijiet żgħar.

2. Test ta 'Umdità (Metodu ta' Simulazzjoni Ambjentali)

Kundizzjonijiet tat-Test: Poġġi f'ambjent ta '40 grad u 95% umdità relattiva għal 48 siegħa;

Spezzjoni sussegwenti: Kejjel ir-reżistenza tal-insulazzjoni immedjatament wara t-tneħħija, bi standard ta 'Akbar minn jew ugwali għal 200 MΩ (500V DC);

Sinifikat: Jissimula kundizzjonijiet ta 'umdità għolja biex tivverifika r-reżistenza għall-umdità tal-istruttura ssiġillata;

Twissija dwar ir-Riskju: Waqgħa f'daqqa fir-reżistenza tindika li l-umdità ppenetrat fis-saff ta 'insulazzjoni.

Dan it-test għandu jitwettaq wara li l-komponent ikun kesaħ kompletament biex tiġi evitata kondensazzjoni mid-differenzi fit-temperatura li tinterferixxi mar-riżultati.

3. Spezzjoni tar-raġġi X (Metodu ta' Ittestjar mhux-distruttiv)

Punti ta 'Spezzjoni Ewlenin: Jekk hemmx mikropori, allinjamenti ħażin, mili insuffiċjenti, jew xquq fiż-żona tas-siġillar;

Rekwiżiti ta' Riżoluzzjoni: It-tagħmir għandu jkollu riżoluzzjoni ta' Akbar minn jew ugwali għal 5μm, kapaċi jidentifika difetti fil-livell tal-mikron-;

Xenarji Applikabbli: Applikazzjonijiet ta'-livell għoli (bħal mediċi, aerospazjali) jew analiżi tal-ħsarat;

Vantaġġi: Mhux-distruttivi, li jippermettu valutazzjoni komprensiva tal-integrità strutturali interna.

Fil-prattika, X-raġġi jistgħu jiskopru kavitajiet li jinxtorob tas-siġillanti jew bżieżaq tal-weldjatura tal-metall li huma inviżibbli għall-għajn.

4. Dehra u Verifika tal-Parametru tal-Proċess